頻率老化是不可避免的。同時方向可能為正也可能為負。又稱為日老化率、長穩(wěn)等。12）短期頻率穩(wěn)定度(Shorttermstability)振蕩器短時間內的頻率隨機起伏程度。注:以秒為單位，又稱為秒基穩(wěn)定度、秒穩(wěn)、短穩(wěn)等。

KDS晶振H、OCXO主要技術指標定義的IEC標準1）標稱頻率（Nominalfrequency）振蕩器標明的工作頻率KDS晶振

。2）中心頻率偏差(Frequencyaccuracy)在基準點溫度環(huán)境（25±2℃）和中心控制電壓時，測得的頻率值與標稱頻率的偏差。圖3.溫度補償實現這一目標的方法隨著時間而改變.使用的第一種方法之一是直接補償技術,其中使用熱敏電阻,電容器和電阻器網絡來直接控制振蕩器的頻率.溫度的變化導致熱敏電阻(圖4中的RT1和RT2)發(fā)生變化,這會導致網絡的等效串聯電容發(fā)生變化-這反過來會改變晶體上的電容負載,從而導致頻率的變化.振蕩器.

KDS晶振恒溫晶振是將石英晶體裝入一個保溫箱中，并將其溫度加溫到石英晶體溫度曲線高溫拐點溫度，使晶體始終工作在恒溫環(huán)境中注：常見輸出波形及輸出特性指標：1）正弦波（Sine）：諧波抑制（Harmonicattenuation）、雜波抑制（Noiseattenuation）、負載（Load）、輸出幅度（Outputlevel）。。有些高端恒溫晶振還要加雙層恒溫槽，以達到更高的精度。溫補晶振是利用熱敏電阻搭成溫補網絡，通過計算來補償石英晶體溫度頻率曲線使其平滑，來實現在寬溫度范圍的頻率穩(wěn)定度。

KDS晶振13）相位噪聲(Phasenoise)振蕩器短期頻率穩(wěn)定度的頻域量度，通常用相應起伏功率譜密度Sψ(f)表示KDS晶振（1）測試出補償電壓一溫度曲線（V-T曲線）；（2）根據V-T曲線數據，計算熱敏網絡中各電阻的阻值；（3）裝配溫補網絡，測試成品振蕩器f-T曲線，評價論證補償效果。可以看出，獲得準確的V-T曲線參數是溫補晶振設計生產中的關鍵環(huán)節(jié)，直接關系到振蕩器頻率精度的高低，關系著成品溫補晶振品質的優(yōu)劣。，其中相位起伏函數為ψ(f)=2πFt-2πF0t注:抖動是振蕩器短期頻率穩(wěn)定度的時域量度，實際上和相位噪聲都是頻率短期穩(wěn)定度的一種度量方式。